井上 洸
[23p-C101-12]X線逆格子マッピングによる不純物ドープGaAsNの評価

井上 洸, 角田 拓優, 塚崎 貴司, 藤田 実樹, 牧本 俊樹

南 奈津
[21a-C101-9]フォトルミネッセンス特性を用いたSiドープGaAsNにおける有効質量の評価

南 奈津, 塚崎 貴司, 藤田 実樹, 牧本 俊樹